目前，研究人員已開發(fā)出一種測(cè)試手段，可使女性在懷孕前發(fā)現(xiàn)是否攜帶有這種缺陷基因，以便未來找到可能的治療方法。

　　研究人員稱，染色體上有大約800個(gè)基因，目前已在X染色體上發(fā)現(xiàn)有大約85個(gè)基因和各種形式的智力缺陷相關(guān)。

性染色體可能與胎兒智力發(fā)育有關(guān)

　　染色體異常是出生缺陷的重要原因，也是試管嬰兒技術(shù)中造成80%的體外受精胚胎無法發(fā)育成足月健康嬰兒的“罪魁禍?zhǔn)住薄?

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　　胚胎植入前遺傳學(xué)診斷（PGD）又稱為孕前診斷，是胚胎植入子宮之前進(jìn)行的遺傳學(xué)診斷，淘汰遺傳學(xué)不正常的胚胎，僅將遺傳學(xué)正常的胚胎植入子宮，是積極性優(yōu)生的一種方式。與妊娠到中期抽取羊水進(jìn)行產(chǎn)前診斷技術(shù)相比，孕前診斷因?yàn)橹踩胝５呐咛ィ苊饬水a(chǎn)前診斷發(fā)現(xiàn)胎兒異常后需要進(jìn)行選擇性流產(chǎn)的缺點(diǎn)。

　　胚胎植入前遺傳學(xué)篩查（PGS）是一種在全部染色體水平進(jìn)行遺傳學(xué)診斷的全新孕前診斷技術(shù)。PGD技術(shù)只能檢測(cè)少數(shù)幾條染色體是否異常， PGS可以檢測(cè)全部染色體組的數(shù)目異常，目前包括的技術(shù)包括單核苷酸多態(tài)性芯片、比較基因組雜交芯片或者全基因組測(cè)序技術(shù)。